Платформа СОЛВЕР: СОЛВЕР HV-MFM

Основная информация Особенности Технические характеристики Дополнительные возможности

СОЛВЕР HV-MFM – новая модель высоковакуумного сканирующего зондового микроскопа, созданная на базе Солвера HV. Прибор позволяет проводить качественные и количественные измерения в высоком вакууме и неагрессивной разреженной газовой среде.

СОЛВЕР HV-MFM – идеальное средство для исследований в высоком вакууме. Вакуумная система обеспечивает предельное давление не хуже 8х10^-8 Торр. Благодаря работе в высоком вакууме становится возможным увеличить чувствительность кантилевера, тем самым повысив точность измерений слабых сил, что особенно важно при высокочувствительных магнитных измерениях, при использовании метода зонда Кельвина и сканирующей емкостной микроскопии.

Использование воды для охлаждения катушки электромагнита позволяет работать с магнитным полем длительное время.

Снижение термических дрейфов, крайне важное для исследований в изменяющихся температурных условиях, в измерительной головке обеспечивается предусилителями с пониженным тепловыделением и термокомпенсаторами.

За происходящим в вакуумной камере можно следить с помощью видеомикроскопа с автоматическим управлением, тем самым обеспечивая возможность визуального наблюдения за процессом измерений. Система видеонаблюдения снабжена CCD камерой и монитором.

Система виброизоляции включает в себя как активную, так и пассивную виброизоляцию.

Вакуумная камера содержит большое число фланцев. Это позволяет при необходимости устанавливать дополнительное оборудование, например, для модификации в высоком вакууме поверхностных наноструктур с помощью ионных, электронных или плазменных источников.

СОЛВЕР HV-MFM оптимизирован в соответствии с требованиями эргономики и исключительно удобен в лабораторных условиях. Наличие четырёх колес и четырёх регулируемых опор помогает быстро и с минимальными усилиями решить проблему передвижения устройства.

Качественный и надежный СОЛВЕР HV-MFM - прекрасный выбор для тех, кто хочет проводить исследования поверхностных и приповерхностных физических параметров с нанометровым разрешением в высоком вакууме.

Для получения более подробной информации заполните, пожалуйста, форму.