Динамические Контактные Методы

Рис. 1 Механический эквивалент включающий латеральные и вертикальные силовые взаимодействия зонд-образец

Использование Сканирующей Зондовой Микроскопии с применением колеблющегося кантилевера впервые было предложено Биннигом [1]. Такие колебания применяются в Бесконтактных, Прерывисто-Контактных и Динамических Контактных методиках.
Особенность Динамических Контактных методик заключается в том, что одновременно с зондом в колебательном состоянии находится и прилегающая к нему область поверхности образца. При этом поверхность образца может колебаться не только в нормально к поверхности но и в латеральном направлении, кантилевер может также колебаться не только на основной резонансной частоте, но и на высших гармониках. 
В колебательное состояние кантилевер может приводиться с использованием сканера, пьезовибратора, специального преобразователя под держателем образца. Частоты колебаний могут варьироваться от десятков кГц до нескольких МГц
Измерения с использованием Динамических Контактных методик проводятся одновременно с измерениями рельефа поверхности Контактными методами и позволяют определять контактную жесткость, модуль Юнга и другие параметры образца. 

Ссылки

1. US Pat. 4724318.